Microelectronic manufacturing yield, reliability and failure analysis II - 16-17 Ocotber 1996, Austin, Texas
- Författare
- Hans-Dieter Hartmann Sharad Prasa Ali Keshavarzi
- (Ali Keshavarzi, Sharad Prasad, Hans-Dieter Harmann, chairs/editors.)
- Genre
- Konferenspublikation, Konferenser, Ej skönlitteratur
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 1996 | USA | 372 sidor. |